Читать контрольная по всему другому: "Трехмерный анализ поверхности" Страница 1

назад (Назад)скачать (Cкачать работу)

Функция "чтения" служит для ознакомления с работой. Разметка, таблицы и картинки документа могут отображаться неверно или не в полном объёме!

Контрольная работа

Трехмерный анализ поверхности

Содержание Введение

. Измерительная система

. Методика расчета параметров шероховатости на основе трехмерного измерения микротопографии поверхности

3. Методика преобразования трехмерного отображения поверхности

Список литературы

Введение Известные отечественные разработки в области измерения шероховатости ориентированы на двухмерный анализ (анализ на основе информации, полученной с помощью профилографа-профилометра).

Разработки по созданию трехмерных измерительных систем носят поисковый характер и практически не доступны отечественной промышленности.

Трехмерный измерительный комплекс состоит из следующих блоков (рис. 1): Рис. 1. Функциональная схема измерительного комплекса ) профилографа-профилометра, двухкоординатного стола, 16-разрядной системы АЦП и управляющего комплекса на базе персонального компьютера;

) программы для расчета параметров шероховатости единичного профиля по ГОСТ 2789-73 на основе результатов проведенных измерений;

) программы для расчета трехмерных параметров шероховатости, являющихся аналогами параметров по ГОСТ 2789-73, ряда параметров, регламентируемых международными стандартами, и параметров, применяемых в инженерных расчетах, проведении срезов, инверсий и других преобразований поверхности.

1. Измерительная система

профилограф измерительный микротопография

Измерительная система позволяет обеспечивать запись шероховатости на базовом участке в виде сетки с шагом до 5 мкм. Так, для участка размерами 0,8x0,8 мм число узлов сетки составляет 161x161. Дальнейшее уменьшение дискретности шага ограничено радиусом щупа. Дискретность координаты z определяется пределом измерения (1…10 или 100 мкм), который разбивается на 214 точек. Это обеспечивает необходимый запас точности для программной фильтрации формы поверхности.

. Методика расчета параметров шероховатости на основе трехмерного измерения микротопографии поверхности

При проведении измерений контрольной поверхности практически невозможно добиться ее параллельности имеющейся аппаратно-измерительной базе. С этой целью предусмотрено нивелирование поверхности с помощью специальных программных процедур на основе метода наименьших квадратов. Вычисляется плоскость, относительно которой среднеквадратическое отклонение поверхности было бы минимальным:, .

Данная плоскость характеризует общий наклон участка поверхности относительно линии горизонта. Коэффициенты уравнения плоскости вычисляются по следующим зависимостям:

; ;

где ,и т.д. - среднеарифметические значения соответствующих величин по всему участку поверхности. Если у полученной плоскости угловые коэффициенты отличны от нуля, поверхность поворачивается так, чтобы найденная плоскость стала параллельна горизонту.

Методика нахождения средней плоскости. В существующих нормативных документах (ГОСТ 2789-73) при расчете параметров шероховатости поверхности за начало отсчета ординат для профиля принята линия, расположенная параллельно направлению профиля на такой высоте, что суммы площадей, заключенных между ней и профилем соответственно сверху и снизу, равны между собой (средняя линия). В трехмерном случае


Интересная статья: Быстрое написание курсовой работы