- 1
- 2
- 3
- . . .
- последняя »
Контрольная работа
Трехмерный анализ поверхности
Содержание Введение
. Измерительная система
. Методика расчета параметров шероховатости на основе трехмерного измерения микротопографии поверхности
3. Методика преобразования трехмерного отображения поверхностиСписок литературы
Введение Известные отечественные разработки в области измерения шероховатости ориентированы на двухмерный анализ (анализ на основе информации, полученной с помощью профилографа-профилометра).
Разработки по созданию трехмерных измерительных систем носят поисковый характер и практически не доступны отечественной промышленности.
Трехмерный измерительный комплекс состоит из следующих блоков (рис. 1): Рис. 1. Функциональная схема измерительного комплекса ) профилографа-профилометра, двухкоординатного стола, 16-разрядной системы АЦП и управляющего комплекса на базе персонального компьютера;
) программы для расчета параметров шероховатости единичного профиля по ГОСТ 2789-73 на основе результатов проведенных измерений;
) программы для расчета трехмерных параметров шероховатости, являющихся аналогами параметров по ГОСТ 2789-73, ряда параметров, регламентируемых международными стандартами, и параметров, применяемых в инженерных расчетах, проведении срезов, инверсий и других преобразований поверхности.
1. Измерительная системапрофилограф измерительный микротопография
Измерительная система позволяет обеспечивать запись шероховатости на базовом участке в виде сетки с шагом до 5 мкм. Так, для участка размерами 0,8x0,8 мм число узлов сетки составляет 161x161. Дальнейшее уменьшение дискретности шага ограничено радиусом щупа. Дискретность координаты z определяется пределом измерения (1…10 или 100 мкм), который разбивается на 214 точек. Это обеспечивает необходимый запас точности для программной фильтрации формы поверхности.
. Методика расчета параметров шероховатости на основе трехмерного измерения микротопографии поверхностиПри проведении измерений контрольной поверхности практически невозможно добиться ее параллельности имеющейся аппаратно-измерительной базе. С этой целью предусмотрено нивелирование поверхности с помощью специальных программных процедур на основе метода наименьших квадратов. Вычисляется плоскость, относительно которой среднеквадратическое отклонение поверхности было бы минимальным:, .
Данная плоскость характеризует общий наклон участка поверхности относительно линии горизонта. Коэффициенты уравнения плоскости вычисляются по следующим зависимостям:
; ;
где ,и т.д. - среднеарифметические значения соответствующих величин по всему участку поверхности. Если у полученной плоскости угловые коэффициенты отличны от нуля, поверхность поворачивается так, чтобы найденная плоскость стала параллельна горизонту.
Методика нахождения средней плоскости. В существующих нормативных документах (ГОСТ 2789-73) при расчете параметров шероховатости поверхности за начало отсчета ординат для профиля принята линия, расположенная параллельно направлению профиля на такой высоте, что суммы площадей, заключенных между ней и профилем соответственно сверху и снизу, равны между собой (средняя линия). В трехмерном случае
- 1
- 2
- 3
- . . .
- последняя »
Похожие работы
Интересная статья: Быстрое написание курсовой работы