Читать вопросы по материаловедению: "Материаловедение" Страница 2

(Назад) (Cкачать работу)

оптич.микроскопия. Исслед-ся показатели светопреломления, сила двойного светопрелом-ия, цвет м-ла. Сущ-ет несколько модификаций этого м-да: поляризацион.микроскопия. Предназначена для изучения образцов м-ла в виде порошков в иммерсионных аппаратах. В них используют имерсион.жид-ти, α имеют постоян. показ-ль светопрел-ия (керосин). 2) Электрон.микроскопия использ-ся для опред-я и исслед-я тонкокристал.массы. Соврем.электрон.микроскопы обладают увелич-ем до 300000 раз. Это увелич-е позволяет рассматривать частицы с размерами 0,3-0,5 нм. Такое глубокое проникновение в мир частиц, волны α во много раз короче волн видим.света, позволяет опред-ть многие св-ва, фазов.превращения, хим. реакции, происходящие в м-ле. Можно опред-ть размеры частиц, все процессы, происходящие при термич.обработке, α подвергаются м-лы. 3) Рентгенографич.анализ основан на изучении дифракции рентгенов.лучей в этом в-ве. Рент.лучи-электромагнит.кол-ния, что и свет, но имеют длину волны 0,05-0,25 нм. Применение основано на том, что длина волны сопоставима с межатом.расстояниями, сама кристалл.решетка в-ва явл-ся естеств.дифракцион.решеткой. 4) Дифференциально-термич.анализ (ДТА) основан на том, что при нагревании м-лов или их образцов происходят фаз.переходы, сопровождающиеся теплов.эффектами. При термич.воздействиях происходит выдел-е или поглощение тепла. При выдел-и тепла происходит появл-е бол.пика t при таких процессах, как плавл-е, диссоциация, дегидратация и др.-экзотермич.процессы. Процессы, сопровождающиеся поглощ-м тепла, назыв. эндотермич., при α происходит соед-е в-в, переход аморф.состояния в кристаллич., окисл-ние в-ва. Прибором для изуч-я этих проц-в явл. дериватографы-приборы, α позволяют записывать весь проц-с на термаграммах. Исслед. образец и эталон помещаются в печку, концы термопары выведены на дериватограф. Одна термопара около исслед.обраца, др. у эталона (не испытывает фаз.превращ-й), t можно опред-ть с точностью до 0,1°. 5) Спектрал.анализ-физич.м-д качеств. и количеств.анализа в-в, основанный на изучении их спектров. ИК-спектроскопия-один из м-дов. Она основана на взаимодействии исслед.в-ва с ИК-излучением. ИК-спектры связаны с колебат.эн-гией атомов и эн-гий вращ-я молекул. Они явл-ся характер-ми для кажд.группы и сочетания атомов. Для этой цели использ-ся спектрофотометры. 5. Параметры состояния. 1) Истин.плот-ть, ρ (г/см3, кг/м3)-отн-е массы абсолютно плотного в-ва к его объему. ρ=m/V 2) Относит.плот-ть, d-отн-е плот-ти м-ла к плот-ти воды. Явл-ся безразмер.вел-ной. 3) Все м-лы, за искл. мет-лов, сплавов и стекла, явл. пористыми, поэтому объем порист.м-ла в естеств. состоянии слагается из объема м-ла и объема пор. Ve=Va+Vп. 4) Сред.плот-ть-отн-е массы м-ла в естеств.состоянии. ρm=m/Ve. Плот-ть порист.м-ла всегда < плот-ти м-ла без пор. Напр., пл-ть легкого бетона 500-1800 кг/м3, пл-ть тяж.бетона 2600 кг/м3. 5) Насыпная пл-ть, ρн –масса ед-цы объема рыхлонасыпан., волокнист. или зернистых м-лов (щебень, гранулирован. мин.вата, гравий, песок). Она всегда < истин.пл-ти и средней. Строение порист. м-ла харак-ся общей, открытой и закрытой порист-тью. Пор-ть-степень заполнения объема м-ла порами, опред-ся отн-м объема пор к общему объему м-ла. П= vп/ v %. Экспериментал.м-д опред-я пор-ти основан на замещении порист.пр-ва гелием или водой. Для хар-ки пор-ти сущ-т коэф-т плот-ти-степень заполнения объема м-ла тв.в-вом. Опред-ся как