Читать реферат по радиоэлектронике: "Разработка для контроля и определения типа логических интегральных микросхем методом сигнатурного анализа" Страница 1

назад (Назад)скачать (Cкачать работу)

Функция "чтения" служит для ознакомления с работой. Разметка, таблицы и картинки документа могут отображаться неверно или не в полном объёме!

Содержание:

    Введение ..................................................................................... 3Постановка задачи ..................................................................... 5

    Назначение системы .......................................................... 5Анализ исходной проектной ситуации ............................ 5Перечень основных функций, подлежащих реализации. 7Основные технические параметры .................................. 9Требования к персональному компьютеру и системе ... 9Требования к интерфейсу пользователя ......................... 9

    Проектирование структуры системы ...................................... 11

    Описание структуры системы .......................................... 11

    Выбор технических и программных средств реализации .... 18

    Выбор элементной базы .................................................... 18Выбор программных средств ........................................... 25

    Описание принципиальных схем ............................................. 27

    Описание состава принципиальных схем в сопоставлениис соответствующими структурными схемами узлов ........ 27

    Проектирование алгоритма функционирования системы ..... 47

    Метод сигнатурного анализа ............................................ 47Описание алгоритма функционирования системы ......... 49Распределение адресного пространства LPT-порта ....... 50Описание подпрограмм ..................................................... 53

    Описание конструкции системы ............................................... 59

    Инструкция по эксплуатации .................................................... 60Экономическая часть ................................................................. 61Вопросы охраны труда и техники безопасности .................. 65Заключение ............................................................................... 75Литература ................................................................................ 76Приложения .............................................................................. 77

    Введение

Заводы и предприятия, выпускающие радиодетали (и в частности - микросхемы), после изготовления, но до отправки готовой продукции на склад, подвергают их контролю на работоспособность, а также соответствие техническим условиям и параметрам ГОСТ’а. Однако, радиодетали, даже прошедшие ОТК на заводе-изготовителе, имеют некоторый процент отказа в процессе транспортировки, монтажа или эксплуатации, что влечет за собой дополнительные затраты рабочего времени и средств для их выявления и замены (причем большую часть времени занимает именно выявление неисправных деталей).

Особенно важна 100% исправность комплектующих деталей при сборке ответственных узлов управляющих систем, когда неисправность какой-либо одной детали может повлечь за собой выход из строя других деталей, узлов, а возможно, и всего комплекса в целом.

Для обеспечения полной уверенности в работоспособности той или иной радиодетали, необходимо проверять ее на исправность непосредственно перед сборкой узла или изделия (“входной контроль” на заводах и предприятиях, занимающихся производством радиоэлектронных устройств). Если большинство радиодеталей можно проверить обычным омметром (как, например, резисторы или диоды), то для проверки интегральной микросхемы (ИМС) требуется гораздо больший ассортимент оборудования.

В этом плане хорошую помощь могло бы оказать устройство, позволяющее оперативно проверять работоспособность ИМС, с возможностью проверки как новых (подготовленных для монтажа), так и уже демонтированных из платы


Интересная статья: Основы написания курсовой работы